X射线衍射仪
X射线衍射仪

联 系 人:  李锋, 刘姝依

邮      箱:  lifeng_dqpi@sina.com

电      话:  13766793258

地      址:  化学化工学院321室

生产厂家: 日本株式会社理学

型      号:  D/MAX-220003030502

购买日期: 2005/09/28

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参考收费标准
无
开放机时安排
无
主要规格和技术参数
靶源：Cu靶 功率：16kW 额定管压-管流：40kv-40mA 扫描范围： 5°-90° 稳定度：≤0.005% 角度重现性：0.0001° 最小步长：0.0001°
主要功能及特色
1.物相分析：依据分析对象的晶体结构数据（一般是晶面间距数据）来进行固态物质的相组成分析，同时X射线衍射分析法也能进行定量分析，是一种完整的物相分析方法。 2.测定晶态物质的晶体结构参数以及物质的一些与晶体结构参数有关的物理常数或物理量的重要方法。 3.晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽，通过Scherrer公式计算出晶粒大小。 应用范围： 对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。 使用范围： 金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；有机材料：医药品、工程塑料、各种树脂等。
主要附件及配置
靶源：Cu靶 功率：16kW 额定管压-管流：40kv-40mA 扫描范围： 5°-90° 稳定度：≤0.005% 角度重现性：0.0001° 最小步长：0.0001°